[发明专利]一种基于多参考样品的同轴谐振腔校准方法及系统在审

专利信息
申请号: 201911055341.8 申请日: 2019-10-31
公开(公告)号: CN110609248A 公开(公告)日: 2019-12-24
发明(设计)人: 胡大海;江子奇;常庆功;赵锐;王亚海 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 37221 济南圣达知识产权代理有限公司 代理人: 李琳
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开提供了一种基于多参考样品的同轴谐振腔校准方法,及系统,通过连接电缆连接矢量网络分析仪和同轴谐振腔,激励腔体得到谐振曲线,得到空腔的谐振频率和品质因数;加载介电常数一定的第一参考样品,记录谐振频率相对于空腔的谐振频率和品质因数的变化量;加载另一介电常数为的第二参考样品,记录谐振频率相对于空腔的谐振频率和品质因数的变化量;根据介电常数与谐振频率及品质因数变化量之间的关系,求解常量,完成校准常量的求解;加载待测样品,记录谐振频率相对于空腔的谐振频率和品质因数的变化量,结合校准常量,求得待测样品的介电常数和损耗角正切,完成同轴谐振腔校准。
搜索关键词: 谐振频率 品质因数 校准 变化量 空腔 常量 参考样品 介电常数 加载 同轴谐振腔 待测样品 求解 记录 矢量网络分析仪 损耗角正切 连接电缆 谐振曲线 电常数 激励腔 谐振腔
【主权项】:
1.一种基于多参考样品的同轴谐振腔校准方法,其特征是:包括以下步骤:/n通过连接电缆连接矢量网络分析仪和同轴谐振腔,激励腔体得到谐振曲线,得到空腔的谐振频率和品质因数;/n加载介电常数一定的第一参考样品,记录谐振频率相对于空腔的谐振频率和品质因数的变化量;/n加载另一介电常数为的第二参考样品,记录谐振频率相对于空腔的谐振频率和品质因数的变化量;/n根据介电常数与谐振频率及品质因数变化量之间的关系,求解常量,完成校准常量的求解;/n加载待测样品,记录谐振频率相对于空腔的谐振频率和品质因数的变化量,结合校准常量,求得待测样品的介电常数和损耗角正切,完成同轴谐振腔校准。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911055341.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top