[发明专利]一种基于多参考样品的同轴谐振腔校准方法及系统在审
申请号: | 201911055341.8 | 申请日: | 2019-10-31 |
公开(公告)号: | CN110609248A | 公开(公告)日: | 2019-12-24 |
发明(设计)人: | 胡大海;江子奇;常庆功;赵锐;王亚海 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 37221 济南圣达知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李琳 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本公开提供了一种基于多参考样品的同轴谐振腔校准方法,及系统,通过连接电缆连接矢量网络分析仪和同轴谐振腔,激励腔体得到谐振曲线,得到空腔的谐振频率和品质因数;加载介电常数一定的第一参考样品,记录谐振频率相对于空腔的谐振频率和品质因数的变化量;加载另一介电常数为的第二参考样品,记录谐振频率相对于空腔的谐振频率和品质因数的变化量;根据介电常数与谐振频率及品质因数变化量之间的关系,求解常量,完成校准常量的求解;加载待测样品,记录谐振频率相对于空腔的谐振频率和品质因数的变化量,结合校准常量,求得待测样品的介电常数和损耗角正切,完成同轴谐振腔校准。 | ||
搜索关键词: | 谐振频率 品质因数 校准 变化量 空腔 常量 参考样品 介电常数 加载 同轴谐振腔 待测样品 求解 记录 矢量网络分析仪 损耗角正切 连接电缆 谐振曲线 电常数 激励腔 谐振腔 | ||
【主权项】:
1.一种基于多参考样品的同轴谐振腔校准方法,其特征是:包括以下步骤:/n通过连接电缆连接矢量网络分析仪和同轴谐振腔,激励腔体得到谐振曲线,得到空腔的谐振频率和品质因数;/n加载介电常数一定的第一参考样品,记录谐振频率相对于空腔的谐振频率和品质因数的变化量;/n加载另一介电常数为的第二参考样品,记录谐振频率相对于空腔的谐振频率和品质因数的变化量;/n根据介电常数与谐振频率及品质因数变化量之间的关系,求解常量,完成校准常量的求解;/n加载待测样品,记录谐振频率相对于空腔的谐振频率和品质因数的变化量,结合校准常量,求得待测样品的介电常数和损耗角正切,完成同轴谐振腔校准。/n
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