[发明专利]带质量校正的电感耦合等离子体质谱仪在审
| 申请号： | 201911060015.6 | 申请日： | 2019-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN111146071A | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 杉山尚树;A·利巴;M·L·克林斯克;G·D·伍兹 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/10 | 分类号： | H01J49/10;H01J49/26;H01J49/42 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于控制对通过电感耦合等离子体质谱仪(ICP‑MS)的离子束中的多原子离子的质量过滤的系统和方法。确定了表示具有靶同位素的多原子离子的精确质量的多原子离子质量数据。基于所确定的多原子离子质量数据生成控制信号，并将所述控制信号输出到ICP‑MS，以基于质量对通过所述ICP‑MS到达离子检测器的所述离子束中的所述多原子离子进行过滤。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 校正 电感 耦合 等离子体 质谱仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
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