[发明专利]一种多层瓷介电容器检测方法在审
| 申请号： | 201911061137.7 | 申请日： | 2019-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN110940733A | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 岳冰;贺洋;席雨;韩树强;陈晔 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01N29/06 | 分类号： | G01N29/06 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 李弘 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多层瓷介电容器检测方法，包括根据待测电容器确定相应的检测扫描参数；根据所述检测扫描参数对声学显微镜进行配置；利用配置好的所述声学显微镜对所述待测电容器进行扫描检测，得到扫描结果；对所述扫描结果进行验证。利用SONIX Q‑350声学扫描显微镜对多层瓷介电容器的内部结构进行扫描，能够保证完整、准确、清晰地显示多层瓷介(独石)电容器内部情况，方便观察是否存在裂缝、气隙及空洞等缺陷，对该类电容器的质量进行检测和把控。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多层 电容器 检测 方法 | ||
【主权项】：
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