[发明专利]阵列基板潜在故障激发及检测方法、显示面板及显示装置有效

专利信息
申请号: 201911063446.8 申请日: 2019-10-31
公开(公告)号: CN110728937B 公开(公告)日: 2022-01-21
发明(设计)人: 李广耀;王东方;汪军;王海涛;王庆贺;倪柳松;黄先纯;胡洋;陈皖青;周超 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G09G3/3266
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 张筱宁
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请实施例提供了一种阵列基板潜在故障激发及检测方法、显示面板及显示装置。阵列基板包括栅极驱动区域,栅极驱动区域设置有栅极驱动电路,栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存单元,移位寄存单元包括第一检测点、第二检测点以及连接在第一检测点和第二检测点之间的子电路。本实施例的故障激发方法包括:在预设时长内,将第一检测点与第二检测点之间的压差设置为预定压差,若子电路不存在潜在故障,则子电路不导通,若子电路存在潜在故障,则潜在故障在预定压差的作用下被激发为实际故障。本实施例能够避免存在潜在故障的阵列基板进入后续制程,以降低生产成本并提高良品率;并能够避免施加在两个检测点之间的电压对阵列基板产生破坏。
搜索关键词: 阵列 潜在 故障 激发 检测 方法 显示 面板 显示装置
【主权项】:
1.一种阵列基板潜在故障激发方法,所述阵列基板包括栅极驱动区域,所述栅极驱动区域包括导电层和绝缘层,所述导电层和所述绝缘层形成栅极驱动电路,所述栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存单元,所述移位寄存单元包括第一检测点、第二检测点以及连接在所述第一检测点和所述第二检测点之间的子电路,其特征在于,所述阵列基板的潜在故障激发方法包括:/n在预设时长内,将所述第一检测点与所述第二检测点之间的压差设置为预定压差,若所述子电路不存在潜在故障,则所述子电路不导通以防止所述预定压差损坏所述阵列基板,若所述子电路存在潜在故障,则所述潜在故障在所述预定压差的作用下被激发为实际故障以实现对所述阵列基板的潜在故障的激发。/n
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