[发明专利]一种纳秒级传输延时测试装置和方法有效
| 申请号： | 201911064829.7 | 申请日： | 2019-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN112782550B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 王士江;冯杰 | 申请（专利权）人： | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/30;G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 吴小灿 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种纳秒级传输延时测试装置和方法，通过搭建上升沿前期处理电路和下降沿前期处理电路与合成后期处理电路的组合，能够将传输延时转换为电压测试，从而实现纳秒级传输延时测试，例如对于上升沿和下降沿的传输延时量级都为10‑20ns的SGM48000芯片等所进行的传输延时测试得以成功实现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳秒级 传输 延时 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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