[发明专利]检测电路和集成电路在审
| 申请号： | 201911071688.1 | 申请日： | 2019-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN112782484A | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 迪克·布克;莫瑞恩·范东恩 | 申请（专利权）人： | 大唐恩智浦半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 骆希聪 |
| 地址： | 226400 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种检测电路和集成电路，用于检测经过滤的第二电源端上的第一电容的漂移或开路，该第二电源端适于经第一电阻从未过滤的第一电源端获取电源电压，且适于经该第一电容耦接到参考电位端以过滤所述电源电压。该检测电路包括串联的第二电阻和第二电容，耦接在第一电源端和参考电位端之间，第二电阻和第二电容与第一电阻和第一电容具有相同的时间常数；仿电源端，连接在第二电阻和第二电容之间；以及比较器，耦接第二电源端和仿电源端，适于检测第二电源端的经过滤电源电压和仿电源端的仿电源电压的电压差，该电压差指示第一电容的漂移程度或开路。本发明可以对集成电路外接电容的漂移程度或开路进行检测，具有易于集成和低成本的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电路 集成电路 | ||
【主权项】：
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