[发明专利]一种利用散射光的偏振差异测量颗粒折射率的方法及系统有效
| 申请号： | 201911071791.6 | 申请日： | 2019-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN110687022B | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 张晨雨;张福根 | 申请（专利权）人： | 珠海真理光学仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 卢泽明 |
| 地址： | 519000 广东省珠海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种利用散射光的偏振差异测量颗粒折射率的方法及系统，方法包括获取垂直偏振散射光能分布Ε |
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| 搜索关键词： | 一种 利用 散射 偏振 差异 测量 颗粒 折射率 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种利用散射光的偏振差异测量颗粒折射率的方法，其特征在于，包括步骤：/nS1，分别获取光波照射到位于坐标原点O的颗粒样品上后产生的垂直偏振散射光能分布E
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