[发明专利]存储控制器以及测试数据产生方法在审
| 申请号： | 201911072876.6 | 申请日： | 2019-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN112764977A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 翟泽晨 | 申请（专利权）人： | 深圳宏芯宇电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 罗英;臧建明 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储控制器以及测试数据产生方法。所述方法包括下列步骤：(1)根据对应所述测试数据的所述预定零壹比例与所述预定整数范围来决定转换门槛值，其中所述转换门槛值为所述预定整数范围中的多个连续整数中的其中之一；(2)产生在所述预定整数范围内的目标随机整数；(3)判断所述目标随机整数是否大于所述转换门槛值；其中反应于判定所述目标随机整数大于或非大于所述转换门槛值，将所述目标随机整数转换为1或0，并且将所述测试数据的第i个位设定为所述目标随机整数；以及(4)判断i是否等于N，其中反应于判定i不等于N，对i加上1，并且重新执行步骤(2)；其中反应于判定i等于N，根据所述测试数据的所设定的N个位，回应所述测试数据。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 控制器 以及 测试数据 产生 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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