[发明专利]基于视觉识别技术的磁瓦厚度缺陷检测系统及检测方法在审
申请号: | 201911075936.X | 申请日: | 2019-11-06 |
公开(公告)号: | CN110796657A | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
发明(设计)人: | 张发恩;王炜;杨敏;艾国 | 申请(专利权)人: | 创新奇智(南京)科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/62;G06T5/30;G01B11/06;G01B11/24;G01N21/88;G01N21/95 |
代理公司: | 44502 广州鼎贤知识产权代理有限公司 | 代理人: | 丁雨燕 |
地址: | 210046 江苏省南京市经济*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种磁瓦厚度缺陷检测系统,包括:图像输入模块,用于获取磁瓦图片;图像预处理模块,用于对磁瓦图片进行图片预处理,得到磁瓦图片上的第一磁瓦轮廓和第二磁瓦轮廓;圆弧计算模块,用于根据第一磁瓦轮廓计算得到一第一圆形,并根据第二磁瓦轮廓计算得到一第二圆形,同时用于计算第一圆形的第一圆心位置和第一半径,以及用于计算第二圆形的第二圆心位置和第二半径,同时还用于计算第一圆心位置和第二圆心位置之间的距离差值;磁瓦厚度计算模块,用于根据第一半径、第二半径以及距离差值,计算得到磁瓦的检测厚度;磁瓦厚度缺陷判断模块,用于将磁瓦检测厚度与标准磁瓦厚度进行数据比对,以判断被检测的磁瓦是否存在厚度缺陷。 | ||
搜索关键词: | 磁瓦 圆心位置 厚度缺陷 轮廓计算 图像预处理模块 图像输入模块 预处理 磁瓦检测 厚度计算 计算模块 检测系统 判断模块 数据比对 图片 检测 | ||
【主权项】:
1.一种基于视觉识别技术的磁瓦厚度缺陷检测系统,其特征在于,包括:/n图像输入模块,用于获取摄像设备拍摄的磁瓦图片;/n图像预处理模块,连接所述图像输入模块,用于对所述磁瓦图片进行图片预处理,识别得到所述磁瓦图片上的第一磁瓦轮廓和第二磁瓦轮廓;/n圆弧计算模块,连接所述图像预处理模块,用于根据所述第一磁瓦轮廓计算得到所述第一磁瓦轮廓对应的一第一圆形,并根据所述第二磁瓦轮廓计算得到所述第二磁瓦轮廓对应的一第二圆形;/n所述圆弧计算模块还用于计算出所述第一圆形的第一圆心位置和所述第一圆形对应的第一半径,以及用于计算出所述第二圆形的第二圆心位置和所述第二圆形对应的第二半径;所述圆弧计算模块还用于计算所述第一圆心位置和所述第二圆心位置之间的距离差值;/n磁瓦厚度计算模块,连接所述圆弧计算模块,用于根据所述第一圆形的所述第一半径、所述第二圆形的所述第二半径以及所述第一圆形的所述第一圆心位置和所述第二圆形的所述第二圆心位置之间的所述距离差值,计算得到磁瓦的检测厚度;/n磁瓦厚度缺陷判断模块,连接所述磁瓦厚度计算模块,于所述磁瓦厚度缺陷判断模块中预设有一标准磁瓦厚度数据,所述磁瓦厚度缺陷判断模块用于将所述磁瓦的所述检测厚度与所述标准磁瓦厚度进行数据比对,以判断被检测的所述磁瓦图片中的所述磁瓦是否存在厚度缺陷。/n
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