[发明专利]一种光谱测量方法和装置在审
| 申请号： | 201911077770.5 | 申请日： | 2019-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN110686777A | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 董翊 | 申请（专利权）人： | 南京伯克利新材料科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 44368 深圳市智胜联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 齐文剑 |
| 地址： | 210008 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例提供了一种光谱测量方法和装置，其中一种光谱测量装置主要包括：滤光片阵列由若干不同透射光谱的滤光片按预设阵列排布形成，滤光片用于透射待测光线；图像采集模块用于采集滤光片阵列上每个滤光片的透射光光强得到光强阵列图像；数据处理模块根据光强阵列图像中的光强矩阵与预设滤光片阵列的透射光谱矩阵，计算得到待测光线的光谱。通过采用滤光片阵列和图像采集模块的组合方式，采集待测光线经滤光片阵列透射后的光强矩阵，结合每个滤光片的透射光谱，经过多元矩阵计算得到待测光线的光谱，不需要传统的狭缝和光栅，极大地提高了入射光的强度和利用率，并可灵活按照需求调整光谱分辨率和测量范围，结构大为简化，成本大幅度降低。 | ||
| 搜索关键词： | 滤光片阵列 滤光片 光强 矩阵 透射光谱 透射 图像采集模块 阵列图像 光谱 预设 采集 光谱测量装置 数据处理模块 方法和装置 光谱分辨率 光栅 光谱测量 矩阵计算 需求调整 阵列排布 组合方式 传统的 入射光 狭缝 测量 灵活 | ||
【主权项】：
1.一种光谱测量装置，其特征在于，包括：/n滤光片阵列，由若干不同透射光谱的滤光片按预设阵列排布形成，所述滤光片用于透射待测光线；/n图像采集模块，用于采集所述滤光片阵列上的每个滤光片的透射光强并得到光强阵列图像；/n数据处理模块，根据所述光强阵列图像中的光强矩阵与预设所述滤光片阵列的透射光谱矩阵，计算得到所述待测光线的光谱。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京伯克利新材料科技有限公司，未经南京伯克利新材料科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911077770.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
