[发明专利]FPGA功能测试方法及装置在审
| 申请号： | 201911081430.X | 申请日： | 2019-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN111090039A | 公开（公告）日： | 2020-05-01 |
| 发明（设计）人： | 项宗杰;胡小海;楼建设;孔泽斌;徐导进 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 余岢 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种FPGA功能测试装置，其特征在于，包括上位机和FPGA功能测试板；其中，上位机运行有上位机软件，用于配置FPGA，显示自测试结果；上位机上存储有用于FPGA功能测试的自测试程序；FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA，所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接，用于接收由上位机传送的自测试程序，并将自测试程序配置至待测FPGA上，开启测试，并将FPGA的测试结果回传至上位机软件。 | ||
| 搜索关键词： | fpga 功能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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