[发明专利]一种电子元器件耐高温测试装置有效
| 申请号： | 201911081625.4 | 申请日： | 2019-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN110780137B | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 郑中光 | 申请（专利权）人： | 山东龙为检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 重庆创新专利商标代理有限公司 50125 | 代理人： | 李智祥 |
| 地址： | 276000 山东省临沂市*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子元器件耐高温测试装置，包括检测筒，所述检测筒的内壁上开设有两个沿检测筒中心对称的弧形槽，且所述弧形槽与检测筒的轴心不重合，每个所述弧形槽的内壁上均固定连接有弧形导向条，且所述弧形导向条与弧形槽的轴心重合，每个所述弧形导向条的侧壁均固定连接有导电柱，且所述导电柱滑动连接在弧形槽内。本发明通过高温使弧形导向条发生膨胀并推动导电柱在弧形槽移动，两个导电柱在相对移动过程中它们之间间隔也随之增大，抵消两个导电柱膨胀后所减少的间隔距离，使待检测电子元器件依然能够稳稳的被夹持在两个导电柱之间，同时又避免导电柱对待检测电子元器件发生挤压。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 耐高温 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子元器件耐高温测试装置，包括检测筒(1)，其特征在于，所述检测筒(1)的内壁上开设有两个沿检测筒(1)中心对称的弧形槽(2)，且所述弧形槽(2)与检测筒(1)的轴心不重合，每个所述弧形槽(2)的内壁上均固定连接有弧形导向条(4)，且所述弧形导向条(4)与弧形槽(2)的轴心重合，每个所述弧形导向条(4)的侧壁均固定连接有导电柱(5)，且所述导电柱(5)滑动连接在弧形槽(2)内，两个所述导电柱(5)分别与外界电源正、负极电性连接。/n
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