[发明专利]一种能够实现低压下高读写稳定性的SRAM存储单元电路有效

专利信息
申请号: 201911082163.8 申请日: 2019-11-07
公开(公告)号: CN110808076B 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 贺雅娟;吕嘉洵;黄茂航;吴晓清;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G11C11/419 分类号: G11C11/419;G11C11/412
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种能够实现低压下高读写稳定性的SRAM存储单元电路,为9管结构,第六NMOS管的栅极连接第五NMOS管的栅极和第一写字线,其漏极连接写位线,其源极连接第五NMOS管的漏极;第二NMOS管的栅极连接第三写字线,其漏极连接第五NMOS管的源极、第一PMOS管的漏极以及第三PMOS管、第三NMOS管和第四NMOS管的栅极,其源极连接第一NMOS管的漏极;第二PMOS管的栅极连接第二写字线,其漏极连接第一PMOS管的源极,其源极连接第三PMOS管的源极和电源电压;第三NMOS管的漏极连接第三PMOS管的漏极、第一NMOS管和第一PMOS管的栅极,其源极连接第一NMOS管的源极和地;第四NMOS管的漏极连接读位线,源极连接读字线。本发明能提升SRAM存储单元的写能力并降低系统静态功耗,同时不影响读稳定性,尤其适用于低压应用。
搜索关键词: 一种 能够 实现 压下 读写 稳定性 sram 存储 单元 电路
【主权项】:
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