[发明专利]一种金刚石对顶砧内样品厚度测量装置及方法

摘要

本发明的一种金刚石对顶砧内样品厚度测量装置及方法,属于物理量测量的技术领域。所述的测量装置，主要结构包括：定位激光承台(8)、测角激光A承台(5)、测角激光B承台(2)、测距仪(3)、定位调平激光承台(30)以及定位激光承台滑轨(9)、测距滑轨(4)等；由折射定律关系sinθ1/sinθ2＝sinθ3/sinθ4，经过数学换算推导出样品承压垫片(19)在加压后的厚度h4＝h3‑h1‑h2+Δh1+Δh2。本发明测量设备简单且易于操作，并且测量时综合考虑了各种因素的影响，从而使测量结果更加准确保证物质电学性质和稳态法热学性质测试结果的准确性。

主权项

1.一种金刚石对顶砧内样品厚度测量装置，结构包括：中央处理器(1)、多功能调整平台滑轨(15)和安放于多功能调整平台滑轨(15)上的多功能调整平台(17)，在多功能调整平台(17)上安装有金刚石A压砧(18)、金刚石B压砧(20)以及夹在金刚石A压砧(18)和金刚石B压砧(20)中间的样品承压垫片(19)，样品承压垫片(19)中心压腔内放置样品(32)；所述的多功能调整平台(17)是具备上下、左右、单侧倾角调整功能的平台；其特征在于，结构还有定位激光承台(8)、测角激光A承台(5)、测角激光B承台(2)、测距仪(3)、定位调平激光承台(30)以及定位激光承台滑轨(9)、测距滑轨(4)；其中，定位激光承台(8)安放于定位激光承台滑轨(9)上，测距仪(3)、测角激光A承台(5)、测角激光B承台(2)安放于测距滑轨(4)上；/n在定位激光承台(8)上，安装有A图像传感器(10)和定位激光(11)，并由A转换光路(12)连接，A转换光路(12)内的光路转口处还安装有A半透反射镜(7)，A半透反射镜(7)与水平光路成45度角，以使定位激光(11)发出的光透过，并把来自金刚石A压砧(18)方向的光反射成竖直方向至A图像传感器(10)；/n在测角激光A承台(5)上，安装有测角定位A激光(13)、测角A激光(14)、定位A传感器(16)和测角激光A滑轨(6)；测角定位A激光(13)固定在测角激光A滑轨(6)的一端，测角A激光(14)能在测角激光A滑轨(6)上平移；/n在测角激光B承台(2)上，安装有测角定位B激光(22)、测角B激光(23)、定位B传感器(21)和测角激光B滑轨(29)；测角定位B激光(22)固定在测角激光B滑轨(29)的一端，测角B激光(23)能在测角激光B滑轨(29)上平移；/n所述的定位A传感器(16)和定位B传感器(21)是测距仪(3)的两个传感探头，分别与金刚石A压砧(18)和金刚石B压砧(20)的底面接触，用于测量金刚石对顶砧的总厚度；/n在定位激光承台(8)上，安装有A图像传感器(10)和定位激光(11)，并由A转换光路(12)连接，A转换光路(12)内的光路转口处还安装有A半透反射镜(7)，A半透反射镜(7)与水平光路成45度角，以使定位激光(11)发出的光透过，并把来自金刚石A压砧(18)方向的光反射成竖直方向至A图像传感器(10)；/n在定位调平激光承台(30)上，安装有定位调平辅助激光组支架(24)和B转换光路(26)以及由B转换光路(26)连接的B图像传感器(27)和定位调平激光(25)；在定位调平辅助激光组支架(24)上安装有定位调平辅助激光组(28)；在B转换光路(26)内的光路转口处还安装有B半透反射镜(33)，B半透反射镜(33)与水平光路成45度角，以使定位调平激光(25)发出的光透过，并把来自金刚石B压砧(20)方向的光反射成竖直方向至B图像传感器(27)；/n定位激光(11)、A图像传感器(10)、测角定位A激光(13)、测角A激光(14)、测距仪(3)、测角定位B激光(22)、测角B激光(23)、定位调平辅助激光组(28)、定位调平激光(25)、B图像传感器(27)均与中央处理器(1)进行电气连接。/n