[发明专利]Dubal BIOS的测试方法、测试装置及测试系统在审
| 申请号： | 201911089854.0 | 申请日： | 2019-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN110825640A | 公开（公告）日： | 2020-02-21 |
| 发明（设计）人： | 张斌 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 史翠 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种Dubal BIOS的测试方法，在对主BIOS进行测试后，对主BIOS对应的信号链路进行注错，在判断设备系统已切换至副BIOS后，再对副BIOS进行测试。相较于现有技术中只能从主BIOS、副BIOS的电气电路和外观层面进行测试，本发明提供的方案能够模拟主BIOS故障的情况，从而实现了对主BIOS本身、对副BIOS以及对Dubal BIOS切换机制的完整测试。本发明还公开了一种Dubal BIOS的测试装置、测试系统及计算机可读存储介质，具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | dubal bios 测试 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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