[发明专利]一种利用激光散斑自相关技术测量横向微位移的方法有效
| 申请号： | 201911090114.9 | 申请日： | 2019-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN110631487B | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 张莉;荣振宇;杨伊凡;刘蓬源 | 申请（专利权）人： | 济南大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京中索知识产权代理有限公司 11640 | 代理人： | 商金婷 |
| 地址： | 250022 山东省济南市*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用激光散斑自相关技术测量横向微位移的方法，其特征是包括以下步骤：将金属棒固定到热膨胀实验仪上，并在金属棒的上端固定带有刻度的白板；He‑Ne激光器发出的激光经扩束后照射到白板上，形成激光散斑；调整成像透镜与CCD仪器的位置，使用CCD仪器记录下白板在初始位置时以及在不同温度时的的散斑分布；利用计算机将所得到的二次曝光散斑强度分布的功率谱做逆傅里叶变换，并测量该光场中相邻两自相关强度峰值点的间距，即可计算出待测的横向微位移量。本发明涉及测量设备领域，具体地讲，涉及一种利用激光散斑自相关技术测量横向微位移的方法。本发明有利于实现横向微位移测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 激光 相关 技术 测量 横向 位移 方法 | ||
【主权项】：
1.一种利用激光散斑自相关技术测量横向微位移的方法，其特征是包括以下步骤：/n步骤一：将金属棒(4)固定到热膨胀实验仪(1)上；/n步骤二：在所述金属棒(4)的上端固定带有刻度的白板(5)；/n步骤三：打开所述热膨胀实验仪(1)上的He-Ne激光器，所述He-Ne激光器发出的激光经扩束后照射到所述白板(5)上，使得所述白板(5)表面的照射区域形成激光散斑；/n步骤四：调整成像透镜(2)与CCD仪器(3)的位置，使得所述白板(5)表面照射区域所形成的散斑清晰的成像在所述CCD仪器(3)上，使用所述CCD仪器(3)记录下白板在初始位置时的散斑强度分布S
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