[发明专利]半导体装置与存储器单元在审

专利信息
申请号: 201911095958.2 申请日: 2019-11-11
公开(公告)号: CN112670406A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 郑怀瑜;郭奕廷;龙翔澜 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开了一种半导体装置及存储器单元,半导体装置包含第一电极、第二电极、以及设置于第一电极与第二电极之间的铟掺杂硫基选择层(In‑doped chalcogenide‑based selector layer),其中铟掺杂硫基选择层的铟含量为约2at.%至约10at.%。一种具有此铟掺杂硫基选择层的存储器单元亦在此公开。
搜索关键词: 半导体 装置 存储器 单元
【主权项】:
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