[发明专利]一种产品缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 201911101102.1 | 申请日： | 2019-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN110969600A | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 刘鹏;薛春芳;李秋生;程长华;萧伟权 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学扬中智能电气研究中心 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 郭晓丽 |
| 地址： | 212200 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种产品缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取包含待检测产品的第一图像，将所述第一图像输入预先训练完成的缺陷检测模型；基于所述缺陷检测模型，确定所述待检测的产品是否存在缺陷。由于在本发明实施例中，电子设备预先训练完成有缺陷检测模型，针对待检测的产品，将包含该产品的第一图像输入到缺陷检测模型中，基于缺陷检测模型检测该产品是否存在缺陷，并输出相应的结果。本发明实施例提供的方案不需要人工干预，并且不受光线以及产品类型的影响，因此，节省了大量的人力资源，并且具备较高的检测效率和准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 产品 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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