[发明专利]复杂多级锥叶片转静子叶尖测量方法和磨削加工方法有效

专利信息
申请号: 201911101504.1 申请日: 2019-11-12
公开(公告)号: CN110732918B 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 何晋;肖贺华;刘瑶光;李钰;奚刚;杨建辉;郑学著;曾庆双;徐舟;胡志星 申请(专利权)人: 中国航发南方工业有限公司
主分类号: B24B1/00 分类号: B24B1/00;B24B49/04;B24B19/14
代理公司: 长沙智嵘专利代理事务所(普通合伙) 43211 代理人: 唐湘
地址: 412002*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种复杂多级锥叶片转静子叶尖测量方法及磨削加工方法,首先利用辅助工具(杠杆千分表和中心对表顶尖)精密找正和确定坐标系基准,在精密数控设备上用杠杆千分表打表测量得到基准平面A、基准圆以及叶尖被测理论点的坐标值,由于精密数控设备定位精度很高,通过数控操作系统可以实现杠杆千分表精准移动至目标点压表测量,并可在机床上记录显示压表目标点的精确坐标,再利用各目标点坐标数据推导公式计算获知锥叶片叶尖的实际尺寸(包括半径和角度),在一次装夹找正的情况下实现了锥叶片叶尖尺寸的精密测量,解决了现有多级锥叶片转静子件加工过程中的尺寸检测问题。
搜索关键词: 复杂 多级 叶片 转静子 叶尖 测量方法 磨削 加工 方法
【主权项】:
1.一种复杂多级锥叶片转静子叶尖测量方法,其特征在于,包括以下步骤:/n1)将待测工件装夹固定在夹具上,夹具固定在精密数控设备工作台上,建立基准坐标系,/n当待测工件为转子时,以转子工件找正精密外圆确定的中心线为Z轴,以转子工件的基准平面或平行于基准平面的支靠面为X轴,建立X-Z坐标系,其中精密外圆外径值为D,精密外圆为基准圆;/n当待测工件为静子时,以静子工件找正中心的量环确定的中心线为Z轴,以静子工件的基准平面或平行于基准平面的支靠面为X轴,建立X-Z坐标系,其中量环内径值为D,量环为基准圆;/n2)在所述夹具上设置中心对表顶尖,以找正后的中心对表顶尖校正杠杆千分表表头;/n3)在精密数控设备上用杠杆千分表打表采集基准平面A上任意一点D1的轴向坐标值Z1、基准圆上任意一点D2的径向坐标值X1,得到工件叶尖被测理论点D3的轴向坐标值Z2=Z1-L-d/2,其中L为工件叶尖被测理论点D3偏移基准平面A的偏移量,L由图纸确定,d为杠杆千分表的表头直径,采集坐标时,测量不同目标点时杠杆千分表的表头打表方向一致;/n4)根据步骤3)得到的叶尖被测理论点D3的轴向坐标轴Z2,将杠杆千分表移动至Z2处采集工件叶尖被测理论点D3的径向坐标值X2,则被测工件叶尖半径Y=D/2±|X2-X1|/2±r×sin a×tan a,其中,a为被测工件叶尖的角度,当基准圆半径D/2小于叶尖半径时,|X2-X1|/2前为“+”,反之为“-”;转子叶尖r×sin a×tan a前为“-”,静子叶尖为“+”。/n
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