[发明专利]芯片测试装置及芯片测试系统在审
| 申请号： | 201911106189.1 | 申请日： | 2019-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN112802536A | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 蔡振龙;基因·罗森塔尔 | 申请（专利权）人： | 第一检测有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 黄艳 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片测试装置及芯片测试系统。芯片测试系统包含芯片测试装置及环境控制设备。芯片测试装置的电路板的一侧设置有多个电连接座，电路板的另一侧设置有多个测试模块。电路板被第一固定构件及第二固定构件夹持，且第一固定构件及第二固定构件将多个电连接座夹持固定于电路板的一侧，而电连接座与电路板之间无须通过锁固件相互锁固。当芯片测试装置取得电力时，各测试模块能对其所连接的电连接座所承载的芯片进行测试。各芯片设置于电连接座后，将可随芯片测试装置一同设置于高温环境或低温环境进行测试，而芯片无须反复地拆装。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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