[发明专利]一种扫描链动态重配置的确定型test-per-clock测试装置在审
| 申请号： | 201911109910.2 | 申请日： | 2019-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN110794292A | 公开（公告）日： | 2020-02-14 |
| 发明（设计）人： | 刘铁桥;余婷;姚建荣 | 申请（专利权）人： | 浙江财经大学东方学院 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 33240 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人： | 杨舟涛 |
| 地址： | 314408 浙江省嘉兴*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种扫描链动态重配置的确定型test‑per‑clock测试装置。本发明包括：选择器、模式控制器、响应分析器以及动态重配置的扫描链组；该test‑per‑clock测试装置为基于扫描链动态重配置的test‑per‑clock分块测试装置，所述扫描链中的扫描单元结构分为SFD和DFD结构，扫描链类型分成SFD扫描链和DFD扫描链，扫描链的测试模式分成移位测试模式和响应压缩测试模式。在电路测试时通过模式控制器对扫描链进行动态重配置，将测试数据通过选择器输入到对应的测试模式扫描链中，从而实现对电路的分块测试。本发明将时序电路的测试生成简化为组合电路的测试生成，且能优化布线开销和控制复杂性，为解决超大规模电路测试中的测试储存过高、测试应用时间过长、测试功耗过大等问题提供有效解决方案。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描链 动态重配置 测试 测试模式 测试装置 分块 超大规模电路 压缩测试模式 模式控制器 响应分析器 选择器输入 布线开销 测试功耗 测试数据 测试应用 电路测试 扫描单元 时序电路 通过模式 问题提供 有效解决 组合电路 控制器 选择器 移位 定型 电路 储存 响应 优化 | ||
【主权项】：
1.一种扫描链动态重配置的确定型test-per-clock测试装置，包括：选择器、模式控制器、响应分析器以及动态重配置的扫描链组；其特征在于：该test-per-clock测试装置为基于扫描链动态重配置的test-per-clock分块测试装置，所述扫描链中的扫描单元结构分为SFD和DFD结构，扫描链类型分成SFD扫描链和DFD扫描链，扫描链的测试模式分成移位测试模式(S)扫描链和响应压缩模式(C)扫描链。/n
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