[发明专利]一种基于光学元件的激光损伤检测方法及系统在审
| 申请号： | 201911111161.7 | 申请日： | 2019-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN110749606A | 公开（公告）日： | 2020-02-04 |
| 发明（设计）人： | 张健;李亚国;樊非;张清华;王健;许乔 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/958;G01N21/88 |
| 代理公司： | 11463 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人： | 胡蓉 |
| 地址： | 610000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种基于光学元件的激光损伤检测方法及系统，涉及光学测量技术领域，该方法包括：控制第一光源和第二光源对光学元件进行照明；获取光学元件的照明图像；对照明图像进行图像增强处理，得到检测图像；输出检测图像。实施这种实施方式，能够提高对光学元件的激光损伤检测精度，并且避免一定的检测误差。 | ||
| 搜索关键词： | 光学元件 激光损伤 照明图像 光源 光学测量技术 检测图像 检测误差 输出检测 图像增强 检测 图像 申请 | ||
【主权项】：
1.一种基于光学元件的激光损伤检测方法，其特征在于，包括：/n控制第一光源和第二光源对所述光学元件进行照明；/n获取所述光学元件的照明图像；/n对所述照明图像进行图像增强处理，得到检测图像；/n输出所述检测图像。/n
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