[发明专利]一种高光谱面阵探测器坏元检测方法有效
| 申请号： | 201911124456.8 | 申请日： | 2019-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN110887563B | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 张长兴;王跃明;刘成玉;张东;王建宇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高光谱面阵探测器坏元检测的方法，本方法首先进行成像光谱仪装机与图像数据采集，对获取的数据进行预处理和数据分布统计，提取统计数据的特征统计位置，对特征数据进行像元排序与高低拐点阈值提取，最后进行坏元的检测与标记。本发明可以对高光谱多类型面阵探测器的坏元进行检测，检测类型包括无响应、过响应、闪元、狭缝染灰等，解决了目前多谱段不同种类探测器多类型坏元检测的难题，对成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 探测器 检测 方法 | ||
【主权项】：
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