[发明专利]一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器有效

专利信息
申请号: 201911124807.5 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN111308313B 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 黄文涛;郑孝清;王慧芳 申请(专利权)人: 深圳市瀚翔工业设计有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/02;G01R1/04
代理公司: 北京高航知识产权代理有限公司 11530 代理人: 乔浩刚
地址: 518101 广东省深圳市宝安区新桥街道上寮社区上南上寮工*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器,包括机壳、护垫和转动杆,所述机壳的一侧表面设置有引线接口,所述引线接口的相邻一侧设置有测试口,其中,所述引线接口和测试口的外侧设置有防尘盖,所述连接槽远离凸柱的相邻位置和机壳顶部的一侧开设有卡槽,所述护垫通过卡条连接在卡槽内,所述转动杆贯穿连接在盘齿的内部,所述转动杆伸出齿轮盒的外侧一端连接进支架内部的螺纹孔中。该具有防堵塞功能的集成电路测试仪器设置有防尘盖,通过转动机壳一侧的防尘盖,使得防尘盖通过转轴进行旋转,当防尘盖将机壳一侧的引线接口和测试口位置遮挡时,使得防尘盖将外界的灰尘等杂质排除在外,从而防止接口位置受到堵塞。
搜索关键词: 一种 具有 堵塞 功能 集成电路 测试 仪器
【主权项】:
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