[发明专利]一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器有效
申请号: | 201911124807.5 | 申请日: | 2019-11-18 |
公开(公告)号: | CN111308313B | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 黄文涛;郑孝清;王慧芳 | 申请(专利权)人: | 深圳市瀚翔工业设计有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/02;G01R1/04 |
代理公司: | 北京高航知识产权代理有限公司 11530 | 代理人: | 乔浩刚 |
地址: | 518101 广东省深圳市宝安区新桥街道上寮社区上南上寮工*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种具有防堵塞功能的集成电路测试仪器,包括机壳、护垫和转动杆,所述机壳的一侧表面设置有引线接口,所述引线接口的相邻一侧设置有测试口,其中,所述引线接口和测试口的外侧设置有防尘盖,所述连接槽远离凸柱的相邻位置和机壳顶部的一侧开设有卡槽,所述护垫通过卡条连接在卡槽内,所述转动杆贯穿连接在盘齿的内部,所述转动杆伸出齿轮盒的外侧一端连接进支架内部的螺纹孔中。该具有防堵塞功能的集成电路测试仪器设置有防尘盖,通过转动机壳一侧的防尘盖,使得防尘盖通过转轴进行旋转,当防尘盖将机壳一侧的引线接口和测试口位置遮挡时,使得防尘盖将外界的灰尘等杂质排除在外,从而防止接口位置受到堵塞。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 堵塞 功能 集成电路 测试 仪器 | ||
【主权项】:
暂无信息
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