[发明专利]筛孔偏差核查装置和核查方法在审

专利信息
申请号: 201911126732.4 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN112611689A 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 陈浩;兰扬华;王振华;林春升;苏武;王伟达 申请(专利权)人: 健研检测集团有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 深圳市韦恩肯知识产权代理有限公司 44375 代理人: 李华双
地址: 361000 福建省厦*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及试验筛的技术领域,公开了筛孔偏差核查装置和核查方法,其中筛孔偏差核查装置包括:立柱,竖直安装于底座上;可调节支架,包括上支架和下支架,所述上支架和所述下支架均活动安装于所述立柱,均能够相对所述立柱进行前后、左右、上下调节,所述试验筛安装于所述下支架;尺寸偏差标准板,包括位于所述下支架下方的底板,所述底板上绘有回字形图案;光源,安装于所述上支架。本发明中的筛孔偏差核查装置和核查方法,能够确保被核查的金属穿孔板试验筛上的任意一个孔都能够垂直对准光源,投影至由筛孔正负偏差绘制的回字形图案,能够快速比对判断出筛孔尺寸偏差的符合性,避免放大后读取数的繁琐操作。
搜索关键词: 偏差 核查 装置 方法
【主权项】:
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