[发明专利]一种基于三步相移法的涡旋光模式检测方法在审
| 申请号： | 201911137167.1 | 申请日： | 2019-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN111307279A | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 王琛;任元;刘通;丁友;邱松;赵龙;邢朝阳;吴昊 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 | 代理人： | 郑久兴 |
| 地址： | 101416*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于三步相移法的涡旋光模式检测方法。涡旋光是一种具有螺旋波阵面的特殊光场，三步相移法是一种相位测量方法。首先，制备目标涡旋光的全息图，在此基础上叠加三束相移分别为0、0.5π、π的一维光栅，得到三张新的全息图，通过空间光调制器法在相同平面依次记录初始涡旋光的强度分布和三束相移涡旋光的干涉分布，结合相位公式得到涡旋光的复振幅分布；其次，通过计算机将该复振幅分布与不同拓扑荷数的标准涡旋光基进行卷积运算可得到目标涡旋光的模式度和模式纯度，实现目标涡旋光的模式分析。本方法光路简洁，灵活性强，属于涡旋光检测领域，可应用于复杂涡旋光的模式检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 相移 涡旋 模式 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军战略支援部队航天工程大学，未经中国人民解放军战略支援部队航天工程大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911137167.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：压力测试方法、介质、装置和计算设备
- 下一篇：一种防菌保鲜盒和保鲜盒密封结构
