[发明专利]基于故障行为的电子产品加速寿命试验方法有效
| 申请号： | 201911143453.9 | 申请日： | 2019-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN110907725B | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 陈颖;王羽佳;康锐 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 | 代理人： | 韩燕 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种基于故障行为的电子产品加速寿命试验方法，其具体包括以下步骤：分析电子产品的主故障机理、确定常规任务剖面、确定热相关或电相关故障机理耦合集合的加速因子，确定加速寿命时间、协同腐蚀相关故障机理耦合集合得到加速试验时间初步协同结果，协同振动相关故障机理耦合集合得到加速寿命试验时间协同结果。与以往方法比较，该方法考虑热疲劳机理、腐蚀机理及振动疲劳机理等多机理耦合和温度应力、腐蚀应力及电应力、振动应力等多应力载荷影响，能够解决具有耦合关系的多机理加速寿命试验载荷谱确定问题，同时，可以给出在多应力条件下进行加速寿命试验的试验方案。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 故障 行为 电子产品 加速 寿命 试验 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学，未经北京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911143453.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种肝脏肿瘤消融术后三维空间疗效评估方法及系统
- 下一篇：一种燃烧炉
