[发明专利]智能设备点检系统及智能设备点检的方法在审
| 申请号： | 201911147631.5 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN110908350A | 公开（公告）日： | 2020-03-24 |
| 发明（设计）人： | 刘湘平 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/418 | 分类号： | G05B19/418;G05B23/02 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 张晓薇 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种智能设备点检系统及智能设备点检的方法，包括：数据录入模块、阈值设定模块、数据比较模块以及执行模块；所述数据录入模块将各种生产设备的参数信息录入进所述智能设备点检系统；所述阈值设定模块可以对各种生产设备的参数信息的阈值进行设定；所述数据比较模块可以将实时录入进所述智能设备点检系统的数据信息与所述阈值设定模块内对应的各种生产设备的参数信息进行比较，以检测各种生产设备是否存在异常；所述执行模块包括：显示正常模块和显示异常模块，对所述数据比较模块比较的结果进行反馈；有益效果为：采用全自动化的检测过程，大大地缩短了各种生产设备检测的时间，也无需各种生产设备停机，有效的提高了液晶显示面板的生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 智能 设备 点检 系统 方法 | ||
【主权项】：
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