[发明专利]芯片测试系统在审
| 申请号： | 201911156671.6 | 申请日： | 2019-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN110749816A | 公开（公告）日： | 2020-02-04 |
| 发明（设计）人： | 阚博涵;杨真;彭燕鸿 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十一研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 11010 工业和信息化部电子专利中心 | 代理人： | 田卫平 |
| 地址： | 100015*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种芯片测试系统，芯片测试系统包括：测试电路板、测试座、压板组件和固定组件，测试电路板具有测试程序；测试座设有用于连接待测芯片的多个连接柱，多个连接柱均与测试电路板连接；压板组件用于将待测芯片固定至测试座，测试电路板、测试座和压板组件均设于固定组件。根据本发明的芯片测试系统，在进行芯片测试时，压板组件可以将待测芯片牢固地固定至测试座上，待测芯片可以通过连接柱与测试电路板连接，从而对待测芯片进行测试。由此，实现了对焊装前的芯片的测试，剔除了焊接前芯片的质量缺陷，使得芯片调试过程更加稳定可靠。而且，采用测试系统进行芯片测试时，即插即用，测试过程简单快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 测试电路板 测试座 压板组件 芯片测试系统 待测芯片 连接柱 芯片 固定组件 芯片测试 测试 测试程序 测试过程 测试系统 即插即用 芯片调试 质量缺陷 对焊 焊接 剔除 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：/n测试电路板，所述测试电路板具有测试程序；/n测试座，所述测试座设有用于连接待测芯片的多个连接柱，多个所述连接柱均与所述测试电路板连接；/n压板组件，所述压板组件用于将所述待测芯片固定至所述测试座；/n固定组件，所述测试电路板、所述测试座和所述压板组件均设于所述固定组件。/n
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