[发明专利]缺陷检测方法和装置、存储介质在审
| 申请号： | 201911165457.7 | 申请日： | 2019-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN111007086A | 公开（公告）日： | 2020-04-14 |
| 发明（设计）人： | 胡婷平 | 申请（专利权）人： | 合肥维信诺科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956;G06T7/00;G06T7/11 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 娜拉 |
| 地址： | 230037 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种缺陷检测方法和装置、存储介质。该方法通过获取待测电子器件在N种光源下的N个灰度图像；获取第i个灰度图像中的缺陷占用的像素信息形成第i个缺陷位置信息；根据第i个灰度图像的各线路的线路位置信息及第i个缺陷位置信息，确定第i个灰度图像中缺陷的缺陷类型；根据第1个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型至第N个灰度图像中缺陷对应的缺陷类型，得到待测电子器件的缺陷汇总结果。根据本发明实施例，能够提高缺陷类型判断的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥维信诺科技有限公司，未经合肥维信诺科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911165457.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
