[发明专利]一种老化板测试方法、电接头及老化板测试设备在审
申请号: | 201911171141.9 | 申请日: | 2019-11-26 |
公开(公告)号: | CN110837034A | 公开(公告)日: | 2020-02-25 |
发明(设计)人: | 刘振辉;沈杰 | 申请(专利权)人: | 深圳市矽电半导体设备有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种老化板测试方法、电接头及老化板测试设备。一种老化板测试方法,电连接部沿第一方向运动因止抵于止抵部而旋转,电连接部的导电电极沿旋转方向止抵于老化板的端口;一种电接头,用于电连接老化板,导电电极转动连接于基体,所述导电电极能够相对于基体沿第二方向旋转;导电电极连接的旋转挡位能够沿第二方向运动并止抵于基体;一种老化板测试设备,所述老化板测试设备包括上述的电接头;导电电极与老化板电连接稳定可靠。 | ||
搜索关键词: | 一种 老化 测试 方法 接头 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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