[发明专利]分布式InSAR卫星测高精度影响因素分析方法及系统有效

专利信息
申请号: 201911175845.3 申请日: 2019-11-26
公开(公告)号: CN110907932B 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 赵迪;刘艳阳;侯雨生;陈重华;路瑞峰 申请(专利权)人: 上海卫星工程研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S7/40
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种分布式InSAR卫星测高精度影响因素分析方法,包括:步骤1:建立分布式InSAR卫星目标定位方程,确定影响系统定位精度的误差源;步骤2:根据误差源推导InSAR卫星对目标定位的误差传递函数:步骤3:设定卫星参数:步骤4:根据设定的卫星参数和误差源对InSAR卫星目标定位的误差传递函数,计算误差源对InSAR卫星测高精度的影响程度:步骤5:进行固化计算,对卫星参数的变化进行响应;所述误差源包括:主星定位误差、主星测速误差、斜距测量误差、基线测量误差和干涉相位误差。本发明基于严格的理论模型进行计算并固化计算流程,与现有技术相比误差项目梳理更加全面,在卫星系统参数发生变化时可作出更快响应。
搜索关键词: 分布式 insar 卫星 测高 精度 影响 因素 分析 方法 系统
【主权项】:
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