[发明专利]模型错例的分析方法、装置及电子设备有效
| 申请号： | 201911195171.3 | 申请日： | 2019-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN111046929B | 公开（公告）日： | 2023-09-26 |
| 发明（设计）人： | 苏驰;李凯;刘弘也 | 申请（专利权）人： | 北京金山云网络技术有限公司;北京金山云科技有限公司 |
| 主分类号： | G06V10/776 | 分类号： | G06V10/776;G06V10/74;G06V10/762 |
| 代理公司： | 北京博遵律师事务所 11761 | 代理人： | 马佑平 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及模型错例的分析方法、装置及电子设备。该方法包括：获取错例集，错例集包括多个错判图像，多个错判图像均为基于同一模型的错判案例，模型为使用多个第一样本图像通过机器学习训练得出；提取每个错判图像的特征数据；根据特征数据，获取每个错判图像在错例集中的最相似图像，确定任意两个错判图像之间是否存在最相似关系；根据最相似关系对错例集进行聚类，得到聚类结果，聚类结果包括至少一个团簇，每个团簇对应多个错判图像。 | ||
| 搜索关键词： | 模型 分析 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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