[发明专利]一种单粒子辐照效应仿真方法有效
| 申请号： | 201911197358.7 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN110968975B | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | 谭贤军;唐楠;曾子通;李磊;周婉婷 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G06F30/367 | 分类号： | G06F30/367 |
| 代理公司： | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开一种单粒子辐照效应仿真方法，应用于单粒子辐照效应仿真技术领域，针对现有技术中存在的单粒子共享效应仿真研究的模型建模复杂，不便于电荷共享效应的系统化分析的问题；本发明所基于的各器件模型所有MOS结构均可由某一MOS结构旋转得到，降低了工艺尺寸变化更改MOS结构的难度，本发明实现了同时更改旋转角度和旋转个数即可改变器件模型的MOS结构数，有利于器件模型的扩展和单粒子电荷共享效应的系统化研究。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粒子 辐照 效应 仿真 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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