[发明专利]一种半导体激光器的自动测试标记系统与方法在审

专利信息
申请号: 201911202585.4 申请日: 2019-11-29
公开(公告)号: CN112871725A 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 王宝立;任忠祥;徐现刚;郑兆河;开北超 申请(专利权)人: 山东华光光电子股份有限公司
主分类号: B07C5/34 分类号: B07C5/34
代理公司: 北京华际知识产权代理有限公司 11676 代理人: 张文杰
地址: 250101 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种半导体激光器的自动测试标记系统与方法,包括影像系统、点测系统、测试系统、标记系统,所述影像系统能够完成捕捉、读取视野内待测产品的影像并记录,所述点测系统能够对待测产品进行位置与角度的调整,所述测试系统能够进行波长等光谱参数与功率等光电参数的测试,所述标记系统能够对不合格品进行喷涂标记,本发明科学合理,使用安全方便,本发明实现了对半导体激光器的自动测试,解决了人工手动测试的弊端,提高了测试的效率,同时实现了波长与功率的一体化测试,实现了生产线的自动化,降低了生产成本,提高产品的一致性、对档率,有助于实现精准投料封装。
搜索关键词: 一种 半导体激光器 自动 测试 标记 系统 方法
【主权项】:
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