[发明专利]一种半导体激光器的自动测试标记系统与方法在审
申请号: | 201911202585.4 | 申请日: | 2019-11-29 |
公开(公告)号: | CN112871725A | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 王宝立;任忠祥;徐现刚;郑兆河;开北超 | 申请(专利权)人: | 山东华光光电子股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34 |
代理公司: | 北京华际知识产权代理有限公司 11676 | 代理人: | 张文杰 |
地址: | 250101 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体激光器的自动测试标记系统与方法,包括影像系统、点测系统、测试系统、标记系统,所述影像系统能够完成捕捉、读取视野内待测产品的影像并记录,所述点测系统能够对待测产品进行位置与角度的调整,所述测试系统能够进行波长等光谱参数与功率等光电参数的测试,所述标记系统能够对不合格品进行喷涂标记,本发明科学合理,使用安全方便,本发明实现了对半导体激光器的自动测试,解决了人工手动测试的弊端,提高了测试的效率,同时实现了波长与功率的一体化测试,实现了生产线的自动化,降低了生产成本,提高产品的一致性、对档率,有助于实现精准投料封装。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体激光器 自动 测试 标记 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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