[发明专利]一种孔隙率试块的筛选方法、装置、设备及存储介质有效
申请号: | 201911207016.9 | 申请日: | 2019-11-29 |
公开(公告)号: | CN111275664B | 公开(公告)日: | 2023-05-26 |
发明(设计)人: | 肖鹏;刘奎;南方;陈健;周晖 | 申请(专利权)人: | 上海飞机制造有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 201324 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种孔隙率试块的筛选方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:获取试板上第一目标检测区域的第一目标检测图像,并计算所述第一目标检测图像的灰度平均值;根据所述灰度平均值,确定所述第一目标检测区域的均匀系数;如果所述均匀系数满足预设标准,则将所述第一目标检测区域作为第一孔隙率试块。本发明实施例通过对试板上第一目标检测图像进行均匀系数的计算,根据均匀系数的标准确定第一孔隙率试块,解决了计算孔隙率的算法复杂的问题,降低了筛选过程的工作量,进而提高了孔隙率试块的生产效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 孔隙率 筛选 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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