[发明专利]光学测试装置及光学测试方法有效

专利信息
申请号: 201911207386.2 申请日: 2019-11-29
公开(公告)号: CN110879135B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 肖冯俊树 申请(专利权)人: 昆山国显光电有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G02F1/13
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 娜拉
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种光学测试装置及光学测试方法。光学测试装置包括:导光组件,包括多个呈阵列分布且相互光阻隔设置的光通道,多个光通道包括第一光通道和第二光通道;探头组件,包括光学探头,第一光通道和第二光通道套设于对应的光学探头上;遮光罩,设置于导光组件远离探头组件的一侧,遮光罩具有侧壁和由侧壁围合形成的容纳空间,遮光罩背离导光组件一侧的侧壁上开设有透光口;光路变化组件,设置于遮光罩的容纳空间内,光路变化组件包括光向转换件,第二光通道对应设置有光向转换件。本发明公开的光学测试装置能够一次对至少两个方向的光学特性进行测试,能够提高对显示面板的光学测试效率。
搜索关键词: 光学 测试 装置 方法
【主权项】:
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