[发明专利]半导体装置及其制造方法及包括该半导体装置的电子设备有效
申请号: | 201911210062.4 | 申请日: | 2019-11-29 |
公开(公告)号: | CN111106111B | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
发明(设计)人: | 朱慧珑 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L27/088 | 分类号: | H01L27/088;H01L21/8234 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 倪斌 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 公开了一种半导体装置及其制造方法以及包括这种半导体装置的电子设备。根据实施例,半导体装置包括衬底上彼此相对的第一器件和第二器件。第一器件和第二器件各自均包括沟道部、在沟道部两侧与沟道部相接的源/漏部以及与沟道部相交的栅堆叠。沟道部包括沿相对于衬底的竖直方向延伸的第一部分以及从第一部分沿相对于衬底的横向方向延伸的第二部分。第一器件的沟道部的第二部分与第二器件的沟道部的第二部分彼此相向或相反延伸。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 包括 电子设备 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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