[发明专利]测试装置在审
| 申请号： | 201911217019.0 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN110927413A | 公开（公告）日： | 2020-03-27 |
| 发明（设计）人： | 刘晨曦;李宜然;罗吴霖;黄宇轩;王琬宁;王国华 | 申请（专利权）人： | 深圳市斯纳达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市沃德知识产权代理事务所(普通合伙) 44347 | 代理人： | 高杰;于志光 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种测试装置，包括探针模组和压紧组件，探针模组包括探针座及多个探针，探针座的上侧中部设有用于放置电子器件的收容槽，压紧组件包括底框、上盖及两压爪，底框用于与测试电路板相固定，探针模组位于底框中，底框的相对两侧分别设有两缺口以分别用于容纳两压爪，上盖设于底框上，并在上盖和底框之间设有弹性元件，每一压爪通过一拉轴与上盖连接及通过一支轴与底框连接，且拉轴位于支轴的外侧，上盖在弹性元件的弹性力作用下，使拉轴、支轴及压爪位于下压电子器件的第一位置，通过下压上盖预定距离，可以使拉轴、支轴及压爪联动至松开电子器件的的第二位置。本发明提高下压力，以便能更好的适用引脚数量较多的电子器件。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
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