[发明专利]图像暗场漏电流的校正方法、装置、电子终端、存储介质有效
申请号: | 201911217313.1 | 申请日: | 2019-12-03 |
公开(公告)号: | CN110933256B | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
发明(设计)人: | 杨俊越 | 申请(专利权)人: | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
主分类号: | H04N5/21 | 分类号: | H04N5/21;H04N5/32;G06T5/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 倪静 |
地址: | 201201 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供图像暗场漏电流的校正方法、装置、电子终端、存储介质,其包括:获取暗场漏电流随时间变化的关系数据;根据待校正亮场图像的曝光窗口时间数据以及所述暗场漏电流随时间变化的关系数据,计算所述待校正亮场图像所需校正的暗场漏电流数据;基于所述待校正亮场图像所需校正的暗场漏电流数据,对所述待校正亮场图像进行图像校正。本发明旨在基于校正算法来消除暗场漏电流噪声对图像质量的影响,使校正前后的图像效果大为改善,而且本发明中的校正算法计算耗时短,能够满足实时上图要求。 | ||
搜索关键词: | 图像 暗场 漏电 校正 方法 装置 电子 终端 存储 介质 | ||
【主权项】:
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