[发明专利]用于在半导体装置上制造柱结构的方法及系统在审
申请号: | 201911219736.7 | 申请日: | 2019-12-03 |
公开(公告)号: | CN111383933A | 公开(公告)日: | 2020-07-07 |
发明(设计)人: | S·耶路瓦;O·R·费伊;S·S·瓦德哈维卡;A·J·J·贾巴阿杰;W·H·黄 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/488 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请案涉及用于在半导体装置上制造柱结构的方法及系统。一种制造半导体装置的方法,所述半导体装置具有具第一表面、与所述第一表面相对的第二表面的导电衬底及覆盖所述第一表面的一部分的钝化材料,所述方法可包含将导电材料的晶种层施加到所述导电衬底的所述第一表面以及所述钝化材料,所述晶种层具有与所述导电衬底相对的第一面。所述方法可包含形成包括第一及第二材料的层的多个柱。所述方法可包含蚀刻所述晶种层以底切所述导电衬底与所述柱中的至少一者的所述第一材料之间的所述晶种层。在一些实施例中,所述第一材料与所述导电衬底之间与所述钝化材料接触的所述晶种层的横截面积小于所述第二材料的横截面积。 | ||
搜索关键词: | 用于 半导体 装置 制造 结构 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美光科技公司,未经美光科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911219736.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种城市路网短期交通运行状态估计与预测方法
- 下一篇:机床的控制板
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造