[发明专利]面向超低功耗应用场景的半导体器件综合评估方法有效
| 申请号： | 201911225817.8 | 申请日： | 2019-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN112906175B | 公开（公告）日： | 2022-05-20 |
| 发明（设计）人： | 叶乐;王志轩;黄芊芊;王阳元;黄如 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G01R31/26;G01R31/27;G06F119/06 |
| 代理公司： | 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 | 代理人： | 李稚婷 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种面向超低功耗应用场景的半导体器件综合评估方法，既考虑了器件的低功耗能力，又考虑了器件对电路性能(速度)的影响。该方法以具体电路的工作频率要求为性能标准，得到半导体器件刚好满足该工作频率的最小工作电压；以对照器件在给定工作频率对应的最小工作电压下的最小功耗作为功耗标准，既能得到待评估器件相较于对照器件是否具有低功耗优势的结论，又能得到待评估器件的优势“工作频率‑工作电压”范围。 | ||
| 搜索关键词： | 面向 功耗 应用 场景 半导体器件 综合 评估 方法 | ||
【主权项】：
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