[发明专利]插座探针良率的检测电路及方法在审
申请号: | 201911232055.4 | 申请日: | 2019-12-05 |
公开(公告)号: | CN111007319A | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 李晓侠;钟艳 | 申请(专利权)人: | 上海华力集成电路制造有限公司 |
主分类号: | G01R27/08 | 分类号: | G01R27/08 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 顾浩 |
地址: | 201314*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种插座探针良率的检测电路,包括:产品插座,所述产品插座包含插座探针;金属插座盖,所述金属插座盖接地,所述金属插座盖电连接所述插座探针;电流源,所述电流源用以为所述插座探针供电源;电压表,所述电压表用以测量所述插座探针的电压。并且,根据所述检测电路提供一种检测方法。据此,能够测量得出插座探针的接触电阻,以该接触电阻阻值作为评价指标,从而客观、精确地评价插座探针是否还能够继续使用(是否良好),能够给插座探针更换(使用寿命管理)提供客观科学依据,并且能够达到快速判断的要求。 | ||
搜索关键词: | 插座 探针 检测 电路 方法 | ||
【主权项】:
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