[发明专利]一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法有效

专利信息
申请号: 201911237304.9 申请日: 2019-12-05
公开(公告)号: CN110988042B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 梅高峰;刘民;季启政;高志良;张宇;杨铭;冯娜 申请(专利权)人: 北京东方计量测试研究所
主分类号: G01N27/02 分类号: G01N27/02;G01R27/02
代理公司: 北京善任知识产权代理有限公司 11650 代理人: 王大方
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法,属于屏蔽包装袋夹层导电性测试领域,本发明把一个空心平面线圈放入屏蔽包装袋内部,并用两个平行的平板夹紧,使屏蔽袋的平面与平面线圈紧贴。给平面线圈施加一定频率的正弦激励,并计算出此时阻抗的实部。同理,施加同频率的激励也可以测量出裸空心线圈的阻抗实部。施加静电屏蔽包装袋的空心线圈的阻抗实部与裸空心线圈的阻抗实部的比值反映出了屏蔽包装袋的导电性。比值越大导电性越好,利用一种测试方法评价屏蔽包装袋的导电性,然后把导电性比较结果溯源到能量法测量结果上,继而利用导电性结果去评价屏蔽包装袋的屏蔽效能的优劣。
搜索关键词: 一种 基于 阻抗 损耗 屏蔽 装袋 夹层 导电性 测试 方法
【主权项】:
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