[发明专利]一种基于低场磁共振T2有效

专利信息
申请号: 201911238153.9 申请日: 2019-12-05
公开(公告)号: CN110987224B 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: 刘文中;张亚鹏 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01K7/36 分类号: G01K7/36
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于低场磁共振T2弛豫的磁纳米粒子温度计算方法,属于磁纳米材料测试技术领域。本发明将可以作为T2造影剂的磁纳米粒子作为温度到磁场转换的媒介,进而建立T2弛豫时间的温度特性。磁纳米粒子具有良好的温度敏感性,可以使得得到T2弛豫时间与温度具有线性关系,通过测量T2弛豫时间反映出温度变化,实现高精度测温。本发明利用在不同温度下测量磁纳米粒子的M‑H磁化曲线,求取磁纳米粒子感应磁化强度温度敏感性的磁场依赖性,并据此优选和低场磁共振仪主磁场适配的磁纳米粒子,最大化磁纳米粒子感应磁化强度的温度敏感性,实现高精度测温。
搜索关键词: 一种 基于 磁共振 base sub
【主权项】:
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