[发明专利]测试头及测试方法在审
| 申请号： | 201911256171.X | 申请日： | 2019-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN111077439A | 公开（公告）日： | 2020-04-28 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 广州众诺电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319;G01R31/317;G01R1/073 |
| 代理公司： | 广州知顺知识产权代理事务所(普通合伙) 44401 | 代理人： | 彭志坚 |
| 地址： | 510000 广东省广州市高新技术产业*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试头及测试方法，所述测试头包括外壳、探针和挡板，所述外壳内设有安装腔，外壳的一侧设有连通所述安装腔的安装口，所述探针包括若干根，若干根所述探针以设定的排布方式设于所述安装腔内，且所述探针均可伸缩于所述安装腔内外，所述挡板上设有一个以上的通孔，且所述挡板可拆卸地设于所述安装口上，对应的所述探针从所述通孔伸出所述安装腔外。该测试头及测试方法，可对目前市场上各种不同类型的芯片进行识别、烧录或者复位等操作，并且使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 | ||
【主权项】：
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