[发明专利]一种中低温烧结高介电常数陶瓷介质材料及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201911258099.4 申请日: 2019-12-10
公开(公告)号: CN110922186B 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 仪凯;张庆猛;陈均优;杨志民;杨剑 申请(专利权)人: 有研工程技术研究院有限公司
主分类号: H01B3/12 分类号: H01B3/12;C04B35/495
代理公司: 中国有色金属工业专利中心 11028 代理人: 李子健
地址: 101407 北京市怀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了属于电子材料制造技术领域的一种中低温烧结(烧结温度为900℃‑1200℃)高介电常数陶瓷材料及其制备方法。配方组成为:aBaO‑bMgO‑cAl2O3‑dTiO2‑eSiO2‑fNb2O5‑gSrO‑hPbO,其中的a、b、c、d、e、f、g、h表示各成分的摩尔比例,分别为:2≤a≤15,2≤b≤5,0≤c≤10,4≤d≤16,5≤e≤45,20≤f≤55,16≤g≤27,3≤h≤25。将原料混合均匀,高温熔融、搅拌,形成均匀的液体;将熔融液快速倒入去离子水中,得到玻璃渣;将玻璃渣球磨、烘干、过筛、造粒后,压制成型为坯体,再将坯体于900℃‑1200℃烧结,保温3小时,制得陶瓷电容器介质材料,该介质材料适用于单片陶瓷电容器和多层片式陶瓷电容器。
搜索关键词: 一种 低温 烧结 介电常数 陶瓷 介质 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
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