[发明专利]一种超薄硅单晶切片热处理强化工艺在审

专利信息
申请号: 201911259122.1 申请日: 2019-12-10
公开(公告)号: CN110965127A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 陶术鹤;李聪;李志远;张伟才 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: C30B33/02 分类号: C30B33/02;C30B29/06
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 李美英
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种超薄硅单晶切片热处理强化工艺,本热处理强化工艺通过将硅切片在特定温度下恒温1小时,然后随炉冷却至室温,使得硅切片的强度从未热处理时的1.12lbf升高到热处理后的2.52lbf。升温速率为15℃/min,恒温温度为650℃±20℃,恒温时间为1小时。相比未热处理硅切片,热处理后硅切片强度提升125%,极大降低了后道加工工序如:倒角、研磨的碎片率。
搜索关键词: 一种 超薄 硅单晶 切片 热处理 强化 工艺
【主权项】:
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