[发明专利]阈值电压产生电路、测试机及充电保护芯片测试装置有效
| 申请号： | 201911259142.9 | 申请日： | 2019-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN112947654B | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 张恭铭;邴春秋;王士江 | 申请（专利权）人： | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 |
| 主分类号： | G05F1/56 | 分类号： | G05F1/56 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;李镇江 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种阈值电压产生电路、测试机及充电保护芯片测试装置，阈值电压产生电路包括：可调低压源模块，用于产生扫描电压，扫描电压以第一步长进行步进调节；可调基准源模块，用于产生基准电压，基准电压以第二步长进行步进调节；以及加法模块，分别与可调低压源模块和可调基准源模块连接，用于对扫描电压和基准电压进行加法运算，以输出阈值电压，其中，第一步长小于第二步长且第一步长与第二步长属于不同的量级。可以实现对充电保护芯片高精度的过压阈值扫描和快速测试。 | ||
| 搜索关键词： | 阈值 电压 产生 电路 测试 充电 保护 芯片 装置 | ||
【主权项】：
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