[发明专利]一种金属细丝超薄金属镀层厚度测试方法在审

专利信息
申请号: 201911259180.4 申请日: 2019-12-10
公开(公告)号: CN110926399A 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 刘立娜;刘兆枫;何煊坤;杨东海;孙雪莲 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08;G01B21/10;G01N21/73;G01B15/00
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 王凤英
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种金属细丝超薄金属镀层厚度的测量方法,实现了直径小于20μm的金属细丝,金属镀层厚度小于0.2μm时镀层厚度的测量。首先取一定长度的样品,称量出总质量,采用化学检测的方法,将其完全溶解,利用电感耦合等离子体光谱仪测试出镀层金属的质量,样品总质量与镀层金属质量的差即为金属细丝的质量。然后根据金属细丝的质量,通过计算得到金属细丝的半径。最后利用扫描电子显微镜测试包含镀层的样品的直径,计算得出包含镀层样品的半径,该半径即为金属细丝的半径与镀层厚度的和,再减去金属细丝的半径即得金属镀层厚度。本发明的测试方法提高了超薄镀层厚度测试的准确度,具有很高的可操作性、重复性和再现性。
搜索关键词: 一种 金属 细丝 超薄 镀层 厚度 测试 方法
【主权项】:
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